材料的導(dǎo)電性是由于物質(zhì)內(nèi)部存在傳遞電流的自由電荷，這些自由電荷通常稱為載流子，他們可以是電子、空穴、也可以是正負(fù)離子。在弱電場(chǎng)作用下，材料的載流子發(fā)生遷移引起導(dǎo)電。材料的導(dǎo)電性能通常用與尺寸無關(guān)的電阻率或電導(dǎo)率表示，體積電阻率以及表面電阻率是材料導(dǎo)電性的一種表示方式。隨著電子設(shè)備的不斷更新?lián)Q代，對(duì)于基礎(chǔ)材料的絕緣性能的要求也越來越高，老一代的設(shè)備在測(cè)試精度以及測(cè)試量程方面越來越顯得拙荊見肘，是德科技B2598A高阻計(jì)的出現(xiàn)，將電阻測(cè)試的精度以及量程提高到了一個(gè)新的范圍。
2. 測(cè)試原理體積電阻率測(cè)量一般采用圖1所示的測(cè)試夾具電極配置 — 將電壓源 Vs 施加到上電極，指定流經(jīng)測(cè)試樣品的大電流為 Im，隨后體積電阻率 Rv 用公式 Rv = Vs/Im 計(jì)算。從測(cè)試樣品流向保護(hù)電極的大電流和從上電極流向保護(hù)電極的表面電流都屬于泄露電流；然而這些電流都會(huì)進(jìn)入 Vs 的低側(cè)，不會(huì)對(duì)用于計(jì)算 Rv 的電流表電流 (Im) 的大小造成影響。體積電阻率 Rv 可用公式rv = EAR/STH x Rv 計(jì)算出，其中:EAR = Effective area 有效面積STH = Sample thickness 樣品厚度
圖1 體積電阻測(cè)試原理
表面電阻率測(cè)量一般采用圖 2 所示的電極配置 — 將電壓源 Vs 施加到護(hù)環(huán)電極，在測(cè)試樣品表面上的電流從保護(hù)電極流向主電極，表面電流被指定為 Im。表面電阻 Rs 可用公式 Rs = Vs/Im 計(jì)算。從護(hù)環(huán)流向上電極的電流是泄露電流；然而這個(gè)電流會(huì)流入 Vs 的低側(cè)，不會(huì)對(duì)用于計(jì)算 Rv 的電流表電流 (Im) 的大小造成影響。表面電阻可用公式rs = EPER/GLEN x Rs 計(jì)算出，其中:EPER = Effective perimeter 有效周長(zhǎng)GLEN = Gap length 間隔長(zhǎng)度
圖2表面電阻測(cè)試原理
3. 相關(guān)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 4722-2017 8.3 《印制電路用印制電路用剛性覆銅箔層壓板試驗(yàn)方法》
IPC-TM-650 2.5.17.1 《絕緣材料的體積電阻率和表面電阻率》
4. 設(shè)備特點(diǎn)
以前，工程師在執(zhí)行高電阻和電阻率測(cè)量時(shí)，必須對(duì)測(cè)量專業(yè)技術(shù)非常熟悉才能獲得準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果。因?yàn)槌碗娏鳒y(cè)量極易受到各種環(huán)境因素的影響。造成誤差的來源通常有: 泄漏電流、放電電流或吸收電流、測(cè)試設(shè)備接地/浮置問題，以及測(cè)試設(shè)備物理結(jié)構(gòu)所產(chǎn)生的環(huán)境噪聲等等。B2985A高阻計(jì)可以提供出色的 10 aA (0.01 fA) 最小電流分辨率、10 PΩ(1016 Ω) 電阻測(cè)量功能，及其他許多功能特性，例如直方圖和趨勢(shì)圖視圖、直觀的測(cè)量導(dǎo)航，因此能夠顯著增強(qiáng)用戶的測(cè)量信心。隨著B2985A高阻計(jì)的安裝調(diào)試完成，將電阻的測(cè)試量程從原來的1013Ω提升到了1016Ω，測(cè)試的效率及測(cè)試準(zhǔn)確性也有了更大的提升。在高性能絕緣板的測(cè)試方面提供了更大的助力。